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用网格实现大规模集成电路仿真文件模式编译研究
用网格实现大规模集成电路仿真文件模式编译研究
(1.上海交通大学 软件学院, 上海 200030; 2.安捷伦科技(上海)有限公司, 上海 200131; 3.上海交通大学 计算机科学与工程系, 上海 200030)
摘要:提出用网格服务实现分布式VCD的编译,并给出了VCD分割算法的分析,在半导体测试程序开发中快速有效地进行VCD 模式的编译,同时也介绍了该网格系统的工作流程和部署。
关键词: 自动测试系统; 网格服务; 网络服务; VCD编译; 半导体测试
中图法分类号: TP391文献标识码: A
文章编号: 1001 3695(2006)07 0225 03
Massive VCD Pattern Compiling with Grid Technology
ZHANG Hua 1,2 , DENG Qian ni??3
(1.College of Software Engineering, Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200030, China; 2.Agilent Technologies (Shanghai)Co.,Ltd.,Shanghai 200131, China; 3.Dept.of Computer Science Engineering, Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200030,China)
Abstract: Compiling VCDs to ATE recognized patterns is an essential work to develop semiconductor test program.Proposes to deploy the VCD compiling program into a distributed environment by grid service technology. An analysis of the VCD splitting al
gorithm is also given in this paper,to compile VCDs to Patterns fast and effecti vely, together with a detail description of how this web service based grid system works.??
Key words: ATE; Grid Service; Web Service; VCD Compiling; Semiconductor Test
1 背景介绍
1.1 半导体测试及VCD的编译
在集成电路行业中,设计和测试是两个不可分割的部分。所谓半导体测试,又称集成电路芯片测试,是指在集成电路芯片的输入端输入一定的信号,并在芯片输出端检测输出的信号是否符合设计的逻辑和规范。芯片上所有管脚为了完成某一功能的输入和输出的集合就称为模式(Pattern)。为了满足大规模自动测试的需求,芯片厂商均使用自动测试系统(Automated Test Equipment, ATE)测试芯片。控制自动测试系统测试某一类芯片的软件称为测试程序。芯片设计工程师在进入测试阶段之前,一般都会在仿真软件中检验设计的正确性,并产生仿真文件,包括信号名称、输入信号和期望输出等。大多数仿真文件都是VCD(Value Change Dump)格式,所以又称为VCD文件。开发测试程序中的一个重要工作是将集成电路设计中产生的VCD文件编译成可供测试的模式。随着半导体制程进入深亚微米时代,小小一块芯片可以实现很高的集成度,功能也趋于复杂,于是仿真文件也随之庞大和繁杂,造成编译的时间越来越长,所需的存储资源和计算资源也越来越多。在实际应用中,一台SUN Blade 150的工作站(拥有512MB)内存,编译一个200MB左右大小的VCD需要20min~30min,且大量计算资源和存储资源被占用,几乎不能做其他工作。若VCD文件在1GB以上,则要求配置强大的工作站,花费数小时乃至一天才能完成编译工作。倘若在编译过程中出现错误如资源耗尽,或其他一些与ATE相关的问题,则之前数小时的工作就前功尽弃了。通常,一块芯片的仿真文件可以有几十个甚至成百上千个。编译这些文件是一项耗时、耗力、耗资源的工作。可以说电路仿真文件的模式转换是一个大规模计算的问题。对于此问题,可部署网格计算程序来解决。
1.2 网格的基本思想
网格是一个新出现的概念,代表了一种先进的技术和基础设施,是继Inte
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