测试电路、显示面板及其测试方法与流程.docxVIP

PAGE PAGE 1 测试电路、显示面板及其测试方法与流程 1.本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路、显示面板及其测试办法。背景技术：2.随着多媒体信息查询设备和移动设备的与日俱增，触摸屏的应用范围越来越广泛，现有的内嵌(in cell)式触摸屏主要分为互电容式触摸屏和自电容式触摸屏。自电容式触摸屏通常为三层结构，触控走线通常位于底层，中间为绝缘层，上层为有金属网格组成的trx电极，被隔断的trx电极透过中间绝缘层的过孔，与下方的触控走线衔接在一起，从而保持延续导通。3.当有触控走线在制程中浮现问题，会导致与之衔接的触控电极失去功能，导致囫囵显示装置报废，而在没有绑定驱动芯片之前，因为触控通道太多及触控面板空间限制，无法对每个通道举行电性测试。4.综上，亟需提供一种新的测试电路、显示面板及其测试办法，来解决上述技术问题。技术实现要素：5.本发明实施例提供一种测试电路、显示面板及其测试办法，以解决现有的显示面板在绑定集成电路芯片之前，无法对触控走线举行电性测试的技术问题。6.为解决上述问题，本发明提供的技术计划如下：7.本发明提供一种测试电路，所述测试电路包括起码一个子测试电路，用于检查显示面板的多条触控走线；8.每一个所述子测试电路包括分离用于输入和输出测试信号的测试信号输入端和测试信号输出端，每一所述子测试电路包括多个彼此串联衔接的测试晶体管，多个所述测试晶体管的控制端分离对应衔接不同的所述触控走线，每一所述触控走线施加使得对应的所述测试晶体管导通的控制信号。9.按照本发明提供的测试电路，每一所述子测试电路还包括多个上拉单元，多个所述上拉单元分离对应衔接不同的所述测试晶体管；10.其中，每一所述上拉单元包括上拉输入端、上拉输出端和设于所述上拉输入端和所述上拉输出端的上拉电阻，所述上拉输入端接入第一电源电压，所述上拉输出端衔接对应的所述触控走线和所述测试晶体管的所述控制端。11.按照本发明提供的测试电路，每一所述子测试电路还包括起码一个放大单元，每一所述放大单元与一个所述测试晶体管的输入端或输出端衔接。12.按照本发明提供的测试电路，所述放大单元包括放大信号输入端、放大信号输出端、第一放大晶体管和其次放大晶体管，所述第一放大晶体管为n型晶体管，所述其次放大晶体管为p型晶体管；13.所述放大信号输入端衔接所述第一放大晶体管的控制端、所述其次放大晶体管的控制端，所述放大信号输出端衔接所述第一放大晶体管的第一端和所述其次放大晶体管的第一端，所述第一放大晶体管的其次端接入所述第一电源电压，所述其次放大晶体管的其次端接入其次电源电压。14.按照本发明提供的测试电路，起码一所述子测试电路包括第一子测试电路和其次子测试电路，所述第一子测试电路用于输入和输出第一测试信号，所述其次子测试电路用于输入和输出其次测试信号；15.多条所述触控走线包括多条奇数列触控走线和多条偶数列触控走线，所述第一子测试电路的所述测试晶体管的所述控制端分离对应衔接一条所述奇数列触控走线，所述其次子测试电路的所述测试晶体管的所述控制端分离对应衔接一条所述偶数列触控走线。16.本发明提供一种显示面板，包括上述测试电路，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述测试电路位于所述非显示区。17.按照本发明提供的显示面板，所述显示面板还包括起码一条控制走线和多个控制晶体管，在同一个所述子测试电路中，每一条所述触控走线通过对应的所述控制晶体管衔接于同一所述控制走线，多个所述控制晶体管的控制端衔接同一使能信号。18.按照本发明提供的显示面板，所述显示面板包括集成电路芯片，所述非显示区包括设于所述显示区相对两侧的第一非显示区和其次非显示区，所述集成电路芯片设于所述第一非显示区，所述测试电路设于所述其次非显示区。19.按照本发明提供的显示面板，所述显示面板还包括多个触控电极，多个所述触控电极与多条所述触控走线一一对应衔接。20.本发明提供一种显示面板的测试办法，包括以下步骤：21.向每一触控走线提供可使与所述触控走线对应衔接的子测试电路的测试晶体管导通的触控信号；22.向每一所述子测试电路的测试电路输入端输入测试信号，从与所述测试电路输入端对应的测试电路输出端猎取所述测试电路的输出波形；以及23.推断所述测试信号的输入波形与所述测试信号的所述输出波形是否全都，当所述测试信号的输入波形和所述测试信号的输出波形全都时，确定所述显示面板正常，反之，则异样。24.本发明的有益效果为：在本发明提供的测试电路、显示面板及其测试办法中，测试电路包括起码一个子测试电路，每一个子测试电路用于输入并输出一个测试信号；每一子测试电路包括多个彼此串联衔接的测试晶体管，多个测试晶体管的控制端分离对应衔接