测试电路及电子装置的制作方法.docxVIP

PAGE PAGE 1 测试电路及电子装置的制作方法 1.本发明有关于一种测试电路，特殊是有关于一种用以测试存储电路的测试电路。背景技术：2.随着工艺的长进，集成电路的体积愈来愈小。在测试阶段，因为测试机台的测试频率受到排线、探针卡和封装脚位等限制，而无法提高。技术实现要素：3.本发明提供一种测试电路，用以测试一存储电路，并包括一控制器、一图案产生电路、一比较电路以及一暂存器。控制器用以产生多个内部测试信号并接收一测试结果。图案产生电路按照内部测试信号，写入一测试数据于存储电路的一存储区块中，并读取存储区块，用以产生一读取数据。比较电路比较测试数据及读取数据，用以产生测试结果。暂存器用以存储测试结果。控制器按照第一暂存器所存储的测试结果，推断存储电路是否正常。4.本发明更提供一种电子装置，包括一存储电路；以及一测试电路。测试电路用以测试存储电路，并包括一控制器、一图案产生电路、一比较电路以及一暂存器。控制器用以产生多个内部测试信号。图案产生电路按照内部测试信号，写入一测试数据于存储电路的一存储区块中，并读取存储区块，用以产生一读取数据。比较电路比较测试数据及读取数据，用以产生一测试结果。暂存器暂存测试结果。控制器按照第一暂存器所存储的该测试结果，推断存储电路是否正常。附图解释5.图1为本发明的测试系统的暗示图。6.图2a为本发明的测试电路的一可能实施例。7.图2b为本发明的测试电路的一可能实施例。8.图3为本发明的控制器的另一可能实施例。9.符号解释：10.100：测试系统11.110：测试机台12.120：待测装置13.130：衔接线14.ext：外部测试信号15.mbe：模式挑选信号16.utt：测试结果17.mbt：测试输出信号18.121、200a、200b：测试电路19.122：存储电路20.tste、tsti、tstm：测试图案21.dte、dti：测试数据22.ade、adi：存取地址23.cme、cmi：控制命令24.dtr：读取数据25.210：测试存取电路26.220：图案产生电路27.230：比较电路28.240、260：暂存器29.250：控制器30.221：数据产生器31.222：地址产生器32.223：控制产生器33.224～226：挑选电路34.sd：内部数据35.ssel：挑选信号36.sa：地址信号37.sc：控制信号38.df1～df3、df21～df2n：d型正反器39.opf：操作时脉40.str1～strn：状态码41.251、252、310、320：组合规律电路42.sq1～sq3、so、sq21～sq2n：输出信号43.str：状态信号44.sp/f：测试结果45.270：规律门46.si：串列数据详细实施方式47.为让本发明的目的、特征和优点能更显然易懂，下文特举出实施例，并协作所附图式，做具体的解释。本发明解释书提供不同的实施例来解释本发明不同实施方式的技术特征。其中，实施例中的各元件的配置为解释之用，并非用以限制本发明。另外，实施例中图式标号的部分重复，为了简化解释，并非意指不同实施例之间的关联性。48.图1为本发明的测试系统的暗示图。所示，测试系统100包括一测试机台110以及一待测装置120。测试机台110用以提供一外部测试信号ext，并接收待测装置120所回传的一测试结果utt。在一可能实施例中，测试机台110通过一衔接线130耦接待测装置120，用以提供外部测试信号ext予待测装置120。在其它实施例中，测试机台110也通过衔接线130，接收来自待测装置120的测试结果utt。在一些实施例中，测试机器110可能利用无线(wireless)方式，输出外部测试信号ext，并接收待测装置120回传的测试结果utt。本发明并不限定外部测试信号ext的格式。在一可能实施例中，外部测试信号ext包含一测试数据、一存取地址以及一控制命令。在其它实施例中，外部测试信号ext更包括一模式挑选信号mbe。49.在本实施例中，待测装置120为一电子装置，其按照模式挑选信号mbe的特征参数，操作于一正常测试模式(normal test mode)、一自我测试模式(self-test mode)或是一混合测试模式。举例而言，当模式挑选信号mbe的特征参数符合一第一预设条件时，待测装置120进入一正常测试模式。在正常测试模式下，待测装置120按照外部测试信号ext，产生测试信号予内部的存储电路122。当模式挑选