- 1、本文档共14页,其中可免费阅读10页,需付费49金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
PAGE1
PAGE1
6.光刻胶的应用与特性
6.1光刻胶的类型
在半导体制造过程中,光刻胶(Photoresist)是光刻工艺中不可或缺的材料。根据其化学特性和在光刻过程中的反应机制,光刻胶可以分为多种类型。了解这些类型的光刻胶及其特性对于选择合适的材料和优化光刻工艺至关重要。
6.1.1正性光刻胶
正性光刻胶(PositivePhotoresist)在光照后会发生化学变化,使得被曝光的部分变得可溶于显影液。未曝光的部分保持不溶,从而在显影过程中形成所需的图形。正性光刻胶的主要特性包括:
化学反应:光照后,光敏剂分解产生酸,酸促使曝光区域的光刻胶溶解。
分辨率:正性
您可能关注的文档
- GEM)系列:E30_(1).GEM系列:E30概述.docx
- GEM)系列:E30_(2).GEM系列:E30核心技术解析.docx
- GEM)系列:E30_(3).GEM系列:E30应用场景与案例分析.docx
- GEM)系列:E30_(4).GEM系列:E30系统设计与架构.docx
- GEM)系列:E30_(5).GEM系列:E30开发环境搭建与配置.docx
- GEM)系列:E30_(6).GEM系列:E30编程基础与实践.docx
- GEM)系列:E30_(7).GEM系列:E30数据处理与优化技术.docx
- GEM)系列:E30_(8).GEM系列:E30性能测试与调优.docx
- GEM)系列:E30_(9).GEM系列:E30安全机制与防护.docx
- GEM)系列:E30_(10).GEM系列:E30维护与故障排除.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_7.光刻掩模版的设计与制作.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_8.光刻过程中的对准技术.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_9.光刻分辨率和工艺窗口.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_10.光刻缺陷检测与分析.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_11.光刻过程中的温度控制.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_12.光刻过程中的真空控制.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_13.光刻控制系统的软件架构.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_14.光刻控制系统的硬件架构.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_15.光刻工艺集成与优化.docx
- 半导体制造过程控制系统(PCS)系列:光刻控制系统_16.光刻控制系统的维护与故障排除.docx
文档评论(0)