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  一种低成本 NAND 闪存卡测试机的研究 邱清武，郭筝** （上海交通大学微电子学院，上海 200240） 5 10 15 20 25 30 35 40 摘要：测试成本是芯片制造成本的重要部分。ATE(Automatic Test Equipment,自动测试设备) 的成本是测试成本的重要部分。芯片制造商一直在寻求低成本的测试机来降低测试成本。随 着芯片工艺的进步，在速度、功耗、密度、复杂度方面的提高，给测试带来了挑战。测试机 相应的硬件和软件需要升级来满足测试要求。本文介绍了一种低成本 NAND 闪存卡测试机 硬件和软件结构，分析了它的测试流程，并且和其他 NAND 闪存卡测试机比较，显示出低 成本 NAND 闪存卡测试机的优越性。 关键词：NAND 闪存卡；低成本；测试机；硬件；软件 中图分类号：TN407 The Research of One Low Cost NAND Flash Card Automatic Test Equipment Qiu Qingwu, Guo Zheng (School of Microelectronics,Shanghai JiaoTong University, ShangHai 200240) Abstract: Test cost is the important part of chip manufactures cost.The cost of ATE(Auotomatic Test Equipment) is the important part of test cost. The chip manufacturers always look for low cost ATE to drop test cost.With the development of chip process and improvement of speed、 power dissipation、density、complexity, take challenge for test. ATE relevant hardware and software need to upgrade to satisfy test requirement.The thesis introduces one low cost NAND flash card ATE hardware and software structure,analyze its test process,compare with other NAND flash card ATE,demonstrates the advantages of low cost NAND flash card ATE. Keywords: NAND Flash Card; Low Cost; Automatic Test Equipment; Hardware; Software 0 引言 随着经济的发展，人们对消费类电子产品的需求越来越大，如 MP3、手机、数码相机、 摄像机、电脑等[1]。NAND 闪存卡作为存储功能的产品应用越来越广泛，占芯片市场的比例 越来越大。 随着技术的进步，NAND 闪存在线宽越来越小，体积越来越小，容量越来越大，速度和 复杂度方面的增长，对测试的挑战越来越大[2]。如何降低 NAND 闪存卡测试成本是 NAND 闪存卡制造商一直考虑的重点[3]。 常见的降低测试成本的方法[4]：选择低成本测试机、减少测试时间、优化测试流程、优 化测试程序、使用并行测试技术[5]、采用 DFT(Design For Test)可测性设计技术等[6]。 对于 NAND 闪存卡制造商来说，购买测试机是很大的费用，一般的测试机至少要几十 万美金，硬件和软件的维护和升级也需要很大的费用。如果一直购买测试机，硬件和软件的 维护和升级都需要依赖供应商，成本是很高的。很多 NAND 闪存卡制造商根据产品的特点， 千方百计地开发测试机，力求最大限度地降低测试成本。当然开发 NAND 闪存卡测试机需 要很多条件，不是每一家 NAND 闪存卡制造商都具备这个能力。 本文介绍的低成本 NAND 闪存卡测试机是一家 NAND 闪存卡制造商开发的，包括硬件 和软件的设计，能降低测试成本，方便硬件和软件的升级和维护。低成本 NAND 闪存卡测 作者简介：邱清武，（1982-），男，在职工程硕士，研究集成电路测试。 通信联系人：郭筝，（1980-），男，工程师，研究集成电路设计与测试。E-mail: guozheng@ic.sjtu.edu.cn -1-   试机能够应对闪存卡测试要求进行高效测试，具有灵活的系统结构、高性能仪器和全面的工 程工具等特性；能够支持