参考光干涉提取复振幅的散斑统计函数的实验研究.pdf

第 58卷 第 ll期 2009年 11月 物 理 学 报 VoI．58，No．II，November，2OO9 2009／58(11)／7654—08 ACTA PHYSICA SINICA ⑥2009Chin．Phys．Soc． 参考光干涉提取复振幅的散斑 统计函数的实验研究* 宋洪胜 程传福’滕树云 刘 曼 刘桂媛 张宁玉 1)(山东师范大学物理与电子科学学院，济南 250014) 2)(山东建筑大学理学院，济南 250101) 3)(山东轻工业学院数理系，济南 250100) (2008年 l2月2713收到 ；2009年2月 19日收到修改稿) 由散斑场和参考光的干涉图样提取散斑场复振幅、相位和强度的数值分布 ，并对其统计特性进行实验研究，消 除了散斑场强度统计函数特别是概率密度函数的传统测量方法中噪声引起的偏差，并实现了散斑场复振幅和相位 统计特性的实验研究．通过对不同散射角处散斑场的研究发现随着散射角度 的增大散斑颗粒逐渐呈现 出横 向展宽 的现象，且其平均宽度表现为各向异性，但是其概率密度函数并没有发生变化，与小角度情况一样属于圆形高斯散 斑场 ． 关键词 ：散斑 ，概率密度，干涉 PACC：4225H，4230 能直接探测散斑场的强度分布，所 以这种传统方法 1．引 言 仅局限于研究散斑场强度的统计特性 ，而无法研究 光场复振幅和相位等重要参量的统计规律． 圆形高斯散斑场是相位在区间[一 ，兀)上均匀 利用干涉法提取光场是 由Takeda。。和 Bone 分布的复杂光场，Goodman和 Dainty。在理论上 已 等人先后提出，而且该提取方法 已经在许多领域得 经指出这种散斑场强度 ，具有负指数的概率分布密 到广泛的应用 ¨ ．本文提出一种基于干涉提取技 度 ，复振幅则具有圆形高斯分布密度 ．早期人们利用 术的研究散斑场统计特性 的实验方法，首先利用 照相胶卷测量的散斑场强度分布来实验验证强度的 CCD测量散斑场和参考光的干涉图样 ，然后由两次 概率分布密度 ，由于测量过程非常繁琐，使统计数据 傅里叶变换从干涉图样 中提取出散斑场的复振幅、 不可能太多 ，所 以统计结果不是很理想 ，其中结果较 相位和强度等参量，再对这些参量进行统计研究．在 好的是 McKechnie 作 了 23000次强度测量后统计 提取过程中我们通过选取适当大小的傅里叶谱平面 出来的．而后关于散斑场统计特性 的理论和实验研 可以把 CCD测量数据中的高频噪声滤掉 ，因此最终 究逐渐引起人们 的兴趣 ，目前在实验 中研究散 能够正确地统计出强度 的分布规律 ，更重要的是利 斑场强度统计特性的方法大多是根据电荷耦合器件 用这种方法我们成功地实现了散斑场复振幅和相位 CCD(chargecoupleddevice)探测 的散斑场强度分布 统计特性的实验研究 ．我们通过对不同散射角处散 直接进行统计 ，这样虽然大大提高了统计的数据量 ， 斑场的研究发现 ，散斑颗粒随着散射角的增大而被 但是由于任何 CCD的测量数据中都包含一些噪声， 横向展宽，强度的自相关函数的变化趋势在各个方 则这种方法就无法避免把这个噪声也做了统计，从 向上不再相同，呈各向异性，但是散斑场仍然严格服 而使其强度不再服从高斯分布特征；另外，CCD只 从高斯分布 ．