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MEMS器件低成本圆片级低温 级低温键合方法 。 参与福岛核 电站救援的 日本
键合技术的研究进展 这一方法简单、可靠、适合大规 机器人
MEMSN/EMS较为成熟的封装工 模加工工艺,它的成功应用将大大降低 日本千叶工业大学、东北大学及国
艺一键合工艺,多数是在高温条件下进 MEMS器件和系统的制作成本。 际救援系统研究机构 (IRS)于 2011
行,但是高温会对 MEMS传感器产生 读者服务卡编号 024][ 年 6月8日公布,为应对福岛核电站事
不 良影响,造成器件不稳定甚至失效。 故,由三方组成的一个研究小组对救灾
因此 ,急需开发适用于 MEMS传感器 机器人 “Quince”进行了相应改造 ,即
的低温键合工艺。尤其是近几年,随着 采用三氯化铁为插层剂 ,我 将进入反应堆 内部进行作业,主要用于
生化传感器和射频器件的快速发展,对 国成功合成两层以上一阶次 在辐射量较高的反应堆地下积聚的污
低温键合封装的需求 日益增强。 的石墨烯插层化合物 染水进行水位计设置和水样采集。
局域加热键合技术是低温键合技 在科技部重大科学研究计划和国 Quince的特点是,能够在堆满瓦砾之
术之一,由于键合过程中只对需要键合 家 自然科学基金 的支持下,中科院半导 处、陡坡及 台阶上快速移动。
的区域进行局部加热,芯片的其他部分 体研究所半导体超晶格国家重点实验
仍处于较低温度,而且键合速度快,热 室谭平恒研究员研究组和英国剑桥大
应力小,大大提高了封装的可靠性。目 学 Ferrari博士研究小组合作,利用三
前,基于 Au.Sn二元系的局域加热低 氯化铁为插层剂,成功合成了两层以上
温键合集中在 Au:Sn=80:2O区域,且 一 阶次石墨烯插层化合物。通过控制反
Au.Sn厚度glam,Au用量大,键合成 应条件和后处理方式,所合成的石墨烯
本高。 插层化合物基本实现了石墨烯的完全
中科院半导体研究所集成技术工 掺杂,空穴浓度可达到 5.8x10Hcm~。
程研究中心的一个研究小组 目前正着 同时,利用拉曼光谱系统地表征了所制
负责此项机器人改造的千叶工业
力于基于Au.Sn二元系中富Sn区域的 备化合物的插层阶次、层 问去耦合和稳 大学未来机器人技术研究中心副所长
局域加热键合技术 。在 Au:Sn 比为 定性。研究结果表 明,插层后 的石墨烯
小柳荣次表示:“目前,由于核辐射情
46:54和 30:70的成分范围,键合层厚 化合物中每一层石墨烯都表现为重掺
况的存在,我们只能掌握一部分反应堆
度小于 31ma,Au厚度0.7pm,键合区 杂下的单层石墨烯行为,且插层化合物
厂房 内部的情况。而通过使用Quince,
温度 280.310oC,成功获得了以具有高 相当稳定。该项研究对各种石墨烯插层 不仅能够掌握污染水的情况,还能掌握
维氏硬度的AuSn2相为主的中间层,实 化合物的合成和相应重掺杂石墨烯的
整个厂房的辐射量和辐射源的情况。机
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