密封电磁继电器-七专-技术条件探讨.pdfVIP

必要对其进行修订。 程中存在的一些问题的探讨。 二、问题的探讨 1． 寿命试验抽样方案探讨 1．1抽样方案分析 抽样数量与交货批量(总样本N)有关。具体抽样数量见表l。 表l交货批量与抽样数量关系表 交货批量(总样本N)例行试验抽样总数量 额定电流寿命试验样品数量 序号 (只) (只) (只) l N≤50 3 2 2 50N≤200 5 3 3 N200 8 5 额定电流寿命试验样品数量随着交货批量的增大而增加，看似合理，其实不然。当交货 量增大后，使用方的风险转嫁到了生产方。具体计算如下。 按照某厂某产品现行的“七专”技术条件，额定电流寿命试验次数为10000次，若寿命 试验出现1次失效，则整批产品判定为不合格。额定电流寿命试验的抽样方案如表l。试以 产方风险和使用方风险。 定义：某产品按照某一失效率水平入l进行质量控制，理想情况是如果失效率水平大于 天l，则该批产品应该判为不合格，如果失效率水平小于或者等于入I，则该批产品应该判为 合格。但由于试验方案的局限性(抽样进行而非全数进行试验)，必将有误判的可能。若某 批产品的失效率水平正好等于入l，根据抽样方案进行试验后，被判为不合格批而被拒收的 概率就是生产方的风险，被判为合格批而提供用户使用的概率就是用户方的风险。 假设产品的失效率水平入l按lO’次的质量水平进行控制，分析(50,2，0)抽样方案： 若某批产品的失效率入l正好等于10勺次，即产品每动作106次就出现一次失效。按照 寿命试验方法，每只样品进行10000次寿命试验，则50只产品如果全数进行寿命试验，失 效的数量必定为： A=(50X10000)X 10-6=0．5(只) 根据抽样方案，产品判为合格的概率为： ∥姗．5÷∥50=80．82％ 产品被判为不合格的概率为： l--80．82％=19．18％ 。 ·346· 方案抽样进行10000次寿命试验，生产方风险为19．18％，使用方风险为80．82％。 1．2不同抽样方案比较 的生产方风险，计算结果见表2。 X 按失效率水平入2=310一簟次进行质量控制，再次计算生产方风险和使用方风险．计 算结果见表2。 表2各种抽样方案下生产方风险计算结果表 序 抽样方案 生产方风险 使用方风险 号 x ^1=1×l竹次^1=3×lo．5，次 1=1Xl竹次^I=3Xlo．5，次 l (50。2．O) 19．18％ 51．43％ 80．82％ 48．57％ 2 (200．3，O)27．2蝴 65．92％ 72．78％ 34．08％ 3 (20I．5，O)41．28％ 83．55％ 58．72％ 16．63％ 4 (400．5，O)41．12％ 83-37％ 58．88％ 16．63％ 5 (1000，5，0)40．95％ 83．20％ 58．98％ 16．73％ 从表2可以得出以下结论： 1．在相同的失效率控制水平时，风险主要与抽样数量有关。随着抽样数量的增加，生 产方的风险迅速上升，而