ESSEN评结合头颅磁共振成像预测TIA后1年脑梗死的风险.pdfVIP

中文摘要 ESSEN评分结合头颅磁共振成像 l 预测TA后1年脑梗死的风险 摘 要 ischemic 目的：短暂性脑缺血发作(transient 高级预警信号。TIA反复发作可进展为脑梗死，脑梗死具有高致残率及高 死亡率。因此我们预测TIA患者发生脑梗死的风险，及早进行干预。目 前为止，国内外许多研究分别证实ESSEN评分和头颅磁共振成像能预测 TIA后脑梗死的风险。本研究首次探讨ESSEN评分结合头颅磁共振成像 对TIA后1年脑梗死风险的预测价值。通过预测TIA后脑梗死的风险， 有利于对TIA患者进行危险分层及优化治疗，防止TIA进展为梗死。 1年1月首次发病7天内就诊于河 方法：连续收集2009年9月至201 北医科大学第二医院神经内科的TIA患者为研究对象，所有患者均行头 颅磁共振检查。详细记录患者的病史、临床症状、既往史、家族史、不良 嗜好及相关的辅助检查结果，并计算ESSEN评分及其与磁共振成像相结 合的评分。TIA患者纳入研究后随访1年，脑梗死、死亡或随访至1年则 终止随访。 2检验分析计 应用SPSSl3．0对所有数据资料进行统计学分析，采用z 数资料；采用ROC曲线评估ESSEN评分及其与磁共振成像结合的新评分 素与TIA后1年发生脑梗死关系，P0．05为差异有统计学意义。 结果： 13 l本研究共纳入TIA患者332例，其中男性患者219例，女性患者1 6例，其他心 ±12．845)。伴有高血压143例，糖尿病105例，心肌梗死l 1 脏病(除外心房纤颤)128例，周围血管病34例，吸烟史17例，TIA 38例，MRA狭窄≥50％者87例。 或卒中史84例。M砒有缺血病灶者1 TIA后1年发生脑梗死的患者有94例(28．31％)，无死亡发生。 2 中文摘要 为截取点时，其灵敏度和特异度之和最大。对所有TIA患者根据ESSEN 例。低危组TIA后1年发生脑梗死35例(17．1％)，高危组TIA后1年发 2检 生脑梗死59例(46．5％)。高危组脑梗死的概率明显高于低危组。经z 验分析，ESSEN评分分层对TIA后1年脑梗死风险评价差异有统计学意 义(PO．05)。 2=57．197，进入方程的各个预测因子 1．319X2+o．524X3+O．336X4，P0．05：z 的P0．05，提示均有统计学意义。所有回归系数B值均为正值，提示预 测因子与TIA后1年发生脑梗死呈正相关。 85例。MRJ有病灶者1年发生脑梗死的概率高，有无病灶组对TIA后1 的概率高，狭窄≥50％组与50％组对TIA后1年发生脑梗死风险评价差 异有统计学意义(尸O．05)。 特异度之和最大。根据新评分对TIA患者进行危险分层，其中低危组(0～ l 1 3分)28例，高危组(3分)l4例。低危组1年发生脑梗死30例， 高危组1年发生脑梗死64例。高危组1年发生脑梗死的概率明显高于低 危组。经z2检验分析，新评分各层对TIA后1年脑梗死风险评价差异有 统计学意义(P0．05)。 狭窄≥50％、MRJ有缺血病灶的TIA患者1年发生脑梗死风险高