双层样本中界面对太赫兹时域光谱的影响研究.docxVIP

双层样本中界面对太赫兹时域光谱的影响研究 　　摘要：针对多层样本中界面对太赫兹时域光谱的影响问题，利用太赫兹时域光谱测试了由不同粒径制成的单、双层沙粒压片，获得了单、双层压片样本的太赫兹时域谱。结果表明，双层样本的单位厚度太赫兹峰值衰减系数明显小于单层样本的单位厚度衰减系数。因此，在研究双层样品太赫兹光谱响应时应添加某个系数以消除由样品的界面反射影响，且该系数与材料的特性有关。 　　关键词：太赫兹波;界面反射;吸收系数 　　中图分类号：tn761文献标志码：a 　　引言 　　太赫兹（terahertz，thz）光谱是一种波长介于微波和红外之间的光谱，可用于检测材料和岩石的物理性质。在实际应用中，材料的腐蚀、老化、硬化、破壞、印刷、涂膜、粘结、复合等等都与材料的界面密切有关，因而在材料的太赫兹光谱表征方面，界面的反射特征对光谱检测结果具有重要的影响。表面光滑的样品的光谱反射率较高，表面粗糙的样品的光谱散射损耗较高，而双层样品中存多个界面，多界面间的反射特性对太赫兹光谱检测结果会造成更加复杂的影响。 　　目前，透射式太赫兹光谱是太赫兹检测的重要手段。物质对太赫兹波的吸收是材料太赫兹光谱信号衰减的主要原因之一，大多数材料具有较低的反射率。一般的样本（亦称为样品）是由颗粒经液压机压制而成，从而制得的压片具有光滑的界面，通过透射式太赫兹光谱可以检测样品的光谱特征。然而，颗粒内部的反射干扰（标准具）和界面间的反射特性仍可能影响样品材料的光谱特性，并且现有的测试方法基本是单个样品测试为主，多样品在测试过程中存在界面反射，使得多层样品的光学参数分析出现较大误差。因此，本文通过多样品太赫兹光谱研究了样品间的界面反射问题，阐述了样品界面太赫兹光谱反射的机制，包括样品界面间的多次反射信号、多样品所导致的吸收光谱数据与单一样品测试结果不一致等。对于多样品，常需要考虑或消除影响太赫兹检测中的界面反射问题，因而本研究可为复杂体系的太赫兹检测提供参考。 　　1太赫兹光谱检测原理 　　太赫兹波是频率在0.1～10thz的电磁波，因此其在界面的反射特性符合电磁波的反射原理。对于正常入射的电磁波，照射厚度为d的薄层时，薄层的有效反射系数reff和透射系数teff可表示为： 　　式中：r01为从介质1反射到介质0的场反射系数;r10为从介质0反射到介质1的场反射系数;k1为波数。从薄样品中提取折射率通常需要使用数值方法求解式（1）或式（2）。如果样本足够厚，只能检测到第一个发射脉冲，r10变为零时，即可计算反射系数。在实验室环境中，通常使用单一样品进行太赫兹光谱检测，所获得的结果仅受样品的界面反射和内部吸收和散射的影响。 　　2实验方法 　　实验中选取沙粒粉末作为测试样品，通过筛网筛分出不同尺寸的沙粒，沙粒的平均直径分别为51um、61um、74um、84um、96um、106um，误差在+10um之内。为了获得更坚实的压片样品，压片时加入了对太赫兹波几乎透明的聚乙烯粉末（即直径约为50um的粘结剂）。将每个样品按照0.8g沙粒和0.8g聚乙烯粉末的比例进行混合，并将混合均匀的粉末置于20mpa压力下进行3min压片，最终得到直径为3cm、厚度约为1.74mm±0.40mm的压片样品。 　　太赫兹光谱检测原理如图1所示。利用透射式太赫兹时域光谱仪对压片样品进行测试，测试时样品固定在相同位置，使得太赫兹波垂直穿过样品的中心。太赫兹源辐射的太赫兹波经抛物面镜反射照射到样品上，再经第二个反射镜反射被探测器接收。通过扫描发射器激励脉冲和探测脉冲之间的相对时间延迟可以获得太赫兹波的时间相关性，位于两个抛物面镜之间的样品也会引起时间延迟并使太赫兹信号减小。 　　为了避免水蒸气对实验的影响，在氮气环境下进行透射式太赫兹时域光谱测试实验。每次测试前先测试一次氮气作为参考信号，再对样品单独测试，结束后进行双样品（两个不同样本叠加在一起）测试。将沙粒尺寸相近的两个压片叠加在一起固定在相同位置进行测试，在两片叠加测试结束后，将两个样品互换位置继续测试，以保证测试的准确性。由此可以得到5组叠加样品测试数据，这些样品的颗粒直径组合分别是51um+61um、61um+74um、74um+84um、84um+96um、96um+106um。测试过程中，对每个测试样品进行3次测试，并取3次平均值来计算光学参数。将快速傅里叶变换应用于时域数据以获得频域谱，利用光谱的幅度和相位信息获得样品在太赫兹频段的吸收系数和折射率。 　　3结果与讨论 　　在氮气环境中扫描不同沙样压片，获得其太赫兹时域谱并对光谱进行处理分析，结果如图2所示。图2（a）为利用傅里叶变换获得的太赫兹频域谱，图中既包