《精密测量理论及技术》第四章 测量仪器的精度分析.pptVIP

⒉ 测量力引起的误差 本仪器为接触性测量，∴测量力将会在被测物上产生力变形，该变形量将会引起被测实际量的变化，而引起误差。 且仪器为相对测量，则测量力引起的测量误差应为测量力在标准件和被测件上所引起的力变形之差，即应为二次接触时测量力之差所引起的误差。 若测量时测头为直径为d的球形测头，被测面为平面，测头和被测件材料均为钢，则测量力p所引起的被测件的压陷量： （经验公式）。 上式微分： 为测量力的变化Δp引起的误差。 ⒊ 温度引起的误差 ∵是相对测量，则由温度变化引起量块和测件在长度上有变化，且由于被测件与量块在温度和材料上的不同，∴温度引起的二者长度的变化也不同。 一般测量环境的标准温度为t0(=20℃～25℃)，实际环境温度为t，量块线膨胀系数为a0，则温度引起的量块的误差为： （L为量块长度） 被测件测量时温度为t1、线膨胀系数为a1， ∴温度引起的被测件相对量块的长度变化为 （l为量块长度） ∵由温度引起的测量误差应为 Δ1、Δ2二项随机误差合成（不计温度引起的其他零部件的误差）。 ∴ ⒋ 读数误差 人为读数必然引入误差，除粗大误差不计，仪器单次读数误差可以估计为仪器分度值的1/10（Δ40）。由于光学计确定一个量值需要两次读数，∴读数误差应为两次的平方和根： 二、误差的传递分析计算方法 误差的传递分析计算：将源误差Δi折算到仪器被测量si（输入）的变化值——仪器（局部）误差的过程，得出： Δ=f(Δi)。 称此式为源误差Δi的传递关系，f为误差传递函数。 计算某源误差对仪器精度的影响——局部误差的计算。 方法：微分法、几何法、作用线与瞬时臂方法、数字逼近法、矢量法、经验估算法、实验测试法等。 1、微分法 应用条件：在具有明确的作用方程式的情况下，若源误差为各参数误差时，可用对作用方程求全微分来求各源误差对仪器精度的影响。 定义：仪器的输出与各作用件的参数之间的关系如能用数学关系式表达，称这个关系式为作用方程式或仪器方程。 举例：立式光学计 立式光学计的作用方程为： 与仪器输出s有关的参数为分划板刻尺的刻度值y，杠杆的长度a，物镜焦距f，则： 若已知刻线的分划误差Δy，杠杆长度误差Δa，物镜焦距误差Δf为已定系统误差源，用差分代替微分，则： 若各源误差为随机的，标准差为 、 、 ，则： 为三项局部误差方和根。 运用微分运算解决误差计算问题简单、快速、合成关系明确，但只适用于源误差为包含于作用方程中的参数误差的情况，对于不能列入作用方程的源误差，则需采用其他的方法进行分析计算。 2、几何法 根据源误差与其局部误差之间的几何关系，分析计算源误差对误差精度的影响。 又称理论/方法/设计误差 产生原因：由于理论不完善或者采取近似理论而产生的，它与制造精度无关，是由设计决定的。仪器采取何种方案，进行何种近似处理，便会产生何种原理误差。 属性：原理误差多属系统误差，在设计时可采用增加调整或补偿环节的方法减少或消除原理误差。 * 带有刻度尺的透明玻璃分划板位于物镜的焦平面。光源照亮分划板，其上各点发出的光线经物镜成平行光，到反射镜后被反射，仍为平行光，经物镜后在其焦平面上成像。 S=±100μm，a=2mm,Δs=0.25μm. 设计时要注意结构的合理性，要注意基面统一以及使测量链最短等。 除了在制造过程中提高加工精度和装配精度外，在设计时也应采取适当的措施对其进行控制，如： 原则：基面统一以及使测量链最短 ⒈ 分划板：刻尺的分划误差，位置不垂直光轴，安装不在物镜的焦距上； ⒉ 物镜：畸变、物镜焦距误差Δf ； ⒊测杆：与导套之间的配合间隙 ⒋杠杆：臂长在安装时≠a ⒈ 分划板上刻尺的分划误差Δ1所引起的局部误差e1 ； ⒉ 物镜的畸变Δy所引起的局部误差e2 ； ⒊ 物镜焦距误差Δf所引起的局部误差e3 ； ⒋ 测杆与导套之间的配合间隙所引起的误差e4 ； 5.其他：如分划板的位置不垂直光轴，不