数字电子技术实验报告.docVIP

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指导教师：

电气学院

实验一集成门电路逻辑功能测试

一、实验目的

1.验证常用集成门电路的逻辑功能;

2.熟悉各种门电路的逻辑符号;

3.熟悉TTL集成电路的特点，使用规则和使用方法。

二、实验设备及器件

1.数字电路实验箱

2.万用表

3.74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片

74LS11三3输入与门1片74LS32四2输入或门1片

74LS04反相器1片

实验原理

集成逻辑门电路是最简朴，最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高，输出幅度大，种类多，不宜损坏等特点而得到广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较合适，因此这里使用了74LS系列的TTL成路，它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时＞2.4V，低电平“0”时＜0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的辨认方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标记凹口左，左下角第一脚为1脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。

实验内容

=1\*GB4㈠根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能

1.运用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下

按表1—1规定用开关改变输入端A,B,C的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为1，灭时记为0，把测试结果填入表1—1中。

输入状态

输出状态

A

B

C

Y

0

0

0

0

0

0

1

0

0

1

0

0

0

1

1

0

1

0

0

0

1

0

1

0

1

1

0

0

1

1

1

1

悬空

1

1

1

悬空

0

0

0

表1-174LS11逻辑功能表

2.运用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下

按表1—2规定用开关改变输入端A,B的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1—2中。

输入状态

输出状态

A

B

Y

0

0

0

0

1

1

1

0

1

1

1

1

0

悬空

1

1

悬空

1

悬空

0

1

悬空

1

1

悬空

悬空

1

表1—274LS32逻辑功能表

3.运用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下

按表1—3规定用开关改变电平开关的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1—3中。

表1—374LS04逻辑功能表

输入

输出状态（0|1）

0

1

0

0

悬空

0

=2\*GB4㈡根据管脚功能图连接，测试各门电路逻辑功能

1.74LS00四二输入与非门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑功能。

运用Multisim画出以74LS00为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下

按表1—4规定用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的状态，把测试结果填入表1—4中。

表1—474LS00逻辑功能表

输入状态

输出状态

UA

UB

Y

0

0

1

0

1

1

1

0

1

1

1

0

0

悬空

1

1

悬空

0

悬空

0

1

悬空

1

0

悬空

悬空

0

2.74LS86四二输入异或门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑功能。

运用Multisim画出以74LS86为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下

按表1—5规定用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的状态，把测试结果填入表1—5中。

A

B

C

0

0

0

0

1

1

1

0

1

1

1

0

表1—574LS86逻辑功能表

五、实验总结

实验前应检查集成块是否插对；

实验时要将电源电压接入+5V。

在这次实验中，刚开始由于没有将电源电压接入面板上相应的位子，只是按照管脚图直接连接了电源线和地线，导致实验箱上的灯不亮。同时发现由于有个别的发光二极管与导线会接触不良，使发光二极管闪烁着，间歇性的亮，这时应换一个发光二极管再进行实验。

实验二用小规模集成电路设计组合逻辑电路

实验目的

1.掌握组合逻