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高速光电探测器测试系统的研究现状文献综述

目录

TOC\o1-3\h\u50高速光电探测器测试系统的研究现状文献综述 1

158401.1基于光外插法的高速器件测试方法 1

70941.2基于Nose-to-Nose标准技术高速器件测试方法 2

84461.3基于采样原理的高速器件测试方法 3

19066参考文献 5

随着光电领域的快速发展，光学器件频率也得到了快速的提高，所以对光学器件的测试也提出了更高的要求。就目前来说，光学器件的快速发展远远领先于当前对其测试技术的发展，造成了器件频率与器件测试频率的不匹配，不能满足科学研究以及应用领域高速光电器件的测试要求[15]。欧美等国家研究院率先开展研究，进行了高速器件瞬态上升时间参数的国家比对，实现对探测器的测试工作。目前常用的三种方式是基于光外插法、基于Nose-to-Nose法、基于电光采样法。

1.1基于光外插法的高速器件测试方法

基于光外差法可以实现对高速光电器件的测试工作。光外插法的工作原理是利用两个激光器产生的光，经过耦合器合成后到被测的高速光电器件中，在高速器件中的光敏面会存在两束光差，经过调制所产生的电信号。电信号产生的频率是由两个激光器所产生的波长差所决定的。可以借助于频谱分析仪对高速器件的信号进行分析，原理如图1-1所示[15]。

图1-1基于光外差法的高速器件测试原理

Fig1-1Highspeedtestprinciplebasedonopticalheterodynemethod

中国电子科技集团公司第四十一研究所朱兴邦等[16]基于光外差法测试了高速光学器件，得到了光学器件的上升时间以及脉冲宽度，可以利用此种方法实现对高速器件的测试，验证了光外插法可以实现光学器件测试的可行性，并分析了偏振态和波长稳定性对于测试结果的影响，具有较好的稳定性和准确性。针对光外差法测试满足高速光学器件的测试需求，此种方法采用的是干涉信号进行解调，从而可以得到被测信号的物理量。由于干涉信号强度的变化对于结果影响是微乎其微的，可以提高光外插法的测量精度[17]。

基于光外插法的高速器件测试方法一种具有较好发展前景的测试方法，应用的很广泛，但是在采用光外差法进行高速器件测试的时候，必须要采用相干性一致的激光器，能够精准稳定的控制两个激光器所产生的波长，但在实验中，只有信号光于本振光同时满足一定的条件，才能实现。参考光与信号光的频率也需要极为接近，对于外界环境要求极为苛刻，所以任何一个激光器任何参数的微小变化，都会影响信号的调制，最终不能得到很好的测试效果。

1.2基于Nose-to-Nose标准技术高速器件测试方法

基于Nose-to-Nose（NTN）标准技术高速器件测试方法的工作原理是利用两台性能一致的高速波形在装置完成对高速器件的测试[17]。可以采用“kick-out”的显著特性，实现对高速光电子设备的测试工作。借助于“kick-out”脉冲信号可以得到被测信号的显著的信息从而完成校准的工作。

1990年，Hewllett-packard的学者Ken.Rush[18]在研究时发现，对取样示波器进行直流取样的时候，在输出端存在一个脉冲信号，并且脉冲信号包括了这台取样示波器的部分特征参数信息，并于此脉冲信号成比例关系。在1994年，Ken.Rush通过大量的仿真实验，验证了此结论，并将在输出端的脉冲称为“kick-out”脉冲，并对此脉冲信号产生的原因进行分析[19]。NTN测试项目被研究证实之后，吸引了光电测试领域的众多目光，众多机构与学者对此项技术开展研究，很快成为高速光电设备领域研究热点。众多欧美国家加入了NTN技术研究工作中，做了充分的研究且获得一些成果之后，得到了国家基金项目的支持，使其发展更上一个台阶。在高速光学器件的测试工作，NTN测试技术应用的并未想象中的广泛，所以此领域的学者针对基于NTN技术进行测试的光学器件的不确定度进行了分析[20]。经过长时间的探索，我国在利用NTN技术实现对高速光学器件测试上也取得了众多的成绩。针对基于NTN技术的高速光学器件测试，北京工业大学的刘明亮教授[21]开展了NTN测试研究工作，通过多年的积累，大量的理论分析、数值计算、实验数据作为支撑，建立起来了比较完善的基于NTN技术的光学器件的测试系统，实现了高速光学器件的测试工作，并得到了中国计量科学的认定，对不确定度进行了分析，极大的推动了光学器件测试领域的发展。除此之外，哈尔滨工业大学的林茂[22]教授也开展了基于NTN技术测试系统的研究工作，对“kick-out”脉冲信号产生的原因进行了分析。基于NTN技术的测试系统有着显著的优势，其是一种自校准的方法，不需要借助其他的校准的设备，此外，采用NTN方