X射线荧光光谱法测定工业硅中铁、铝、钙.pdfVIP

第21 卷，第4期 光谐学与光谱分析 Vo1. 21 ,No.4 ,pp569-571 200 1 年 8 月 Spectrωωpy， and Spectral Analysis 刽戴高叫删 X 射铺荧光光谱法测定工业暗中铁、铝、钙忡 谷松海 学M辉 ;K:爆tlJ人精俄拚榆疫局，3剧目01 天津 摘 要通过应片法制备样片，用X 射线荧光光谱法测最工业硅中铁、铝、钙。探讨了样片制备集件，并通过 加入粘接剂提高了样片牢网度G 用统验系数法进行元问增强和吸收钱iE【经对样品制备精密度及测橄榄 确!l分析.X 射钱荧光光谱法测量t准确度和精密度能满足传统化学法要求e ::1;:.诩 X 射线荧光光谱， 工业磁 工业破的分析多采用化学分析方法[1 寸 .ßl然被验结果 准确可撇，但劳动激度大.分析泼皮愤.且夜氮氟微处正理样品 l 实验部分 过程中产生氟硅酸理事有毒气体。 X 射线荧光光蹭法具布样品 制备简单，分析速度快，无污躲等特点，已按余鹏、矿产品分析 1. 1 仪榻设衡和测.最件 中得到广泛应用， x 射线荧光光谱法测定剧体粉末试样时的 德因西门子公词 SRS3创附型顺序式 X.荧光光谱仪，端窗 样品制各方法主要有熔融法和粉末版片法。份来[f片法具有 佬靶X射线管，最大功率 3 kW.8 位自动占世样梅; 样品制备简单、快泼、成本低的特点。文献[4 ]l草添了粉末磁 中科院长眷光机所限-40 琐底片机，模具直後 40 mm , 片制体讼，文献[5 呻-6] 分别对硅铁和细铁等铁合金类产品的 最大距j] 40 t , 粉末底片放X 疲光光谱分析激行了论证，本文根据工业艘 测撒条件.由于本法测定的3币2冒含量t较低，为了得到高的 中主要为高吉童的单质碰，如采用憾融I!易与非自黄土甘峭反应 计数斗目以及好的测量酷精度.将各元素洲最 X 光管的能量均采 形成含金，毁坏柑涡，而其杂质冗熏种类少.相互|可影响小的 用 3 kW.并适当延~测量时间。背囊测量时间与谱线测量时 特点，采用粉末i五片法制样，用经里贵族数法占世行暴体校i茧，在 间相同。测量E条件见我 1 ， 各元素分析截围内测量准确度能满足标准11 寸要求 Tab.l C咽tdItioo for 咖ten时阳t恤I of e险栅跑缸 分杭钱 分光晶体 镜测顺 棋榄 电压IkV 电流/mA ltl段时间句 刷 刷 印 削 如 LiF2剧 FC 0.15 57_51 58.50 60 A!, PET FC 0.15 145.0 143.56 30 m