元器件测试筛选先后次序的决定原则.pdfVIP

第34卷第3期 电 子 工 霹 师 Vo1．34 No．3 2008年3月 ELECTRONIC ENGINEER 1ar．2OO8 元器件测试筛选先后次序的决定原则 朱 瑜 (南京电子技术研究所，江苏省南京市210013) 摘 要：从元器件失效的原理出发，叙述了分析元器件失效的具体失效模式与引起各种元器件失 效的失效模式之间的相互关联性、各种元器件测试筛选方法可能引发的元器件失效模式，以及不同元 器件测试筛选先后次序对最终测试结果的影响，从理论上推导出一种较好的决定元器件测试筛选先 后次序的原则。实践表明，应用这种原则，可以最大限度提高测试筛选的有效性和经济性，在最短时 间内迅速找出有有缺陷、质量不符合要求的产品，而且失效模式定位准确，为查明失效的产生机理提 供数据支持，是一种有效的安排元器件测试筛选先后次序的原则。 关键词：元器件测试；测试筛选；失效模式 中图分类号：TM930．12 失效率基本不变。筛选的过程就是促使元器件提前进 0 引 言 入失效率基本保持常数的使用寿命期，同时在此期间 电子信息技术是当今新技术革命的核心，其技术 剔除失效的元器件 。 基础是电子元器件(以下简称元器件)，其中大部分是 事物的好与坏的判别必须要有标准去衡量。判断 ；微电子器件。元器件是电子设备和系统的基本单元， 元器件的失效与否是由失效N~JJJ标准一一失效判据所 为了提高系统的可靠性，必须首先保证元器件的可靠 确定的。失效判据是质量和可靠性的指标，有时也有 性，但是即使高可靠性的元器件，在最好的生产工艺和 成本的内涵，所以元器件失效不仅指功能的完全丧失， 生产控制下，仍然不可避免地会产生一些有缺陷、质量 而且指电学特性或物理参数降低到不能满足规定的要 不符合要求的产品。所以在装机前对元器件进行测试 求。简而言之，产品失去规定的功能称为失效。 筛选就显得尤其重要。 20世纪60年代以来，我国陆续制定、修订了一系 元器件的筛选测试是为了在施加各种环境和电的 列标准，开发各种试验方法，开拓了旨在研究失效机理 应力，从而将元器件中的各种缺陷激发出来¨ ，以便 的可靠性物理这门新的学科，发展了失效模式、影响及 确定元器件电性能是否失效。电性能失效可以分为连 危害性分析和故障树两种有效的分析方法。这些方法 结性失效、功能性失效和电参数失效。每种失效所反 的使用，为提高元器件筛选的有效性和准确性提供了 映的现象各不相同，元器件在测试时，每种测试方法所 强大的理论工具。 引起的失效模式是不同的 4。，所以元器件测试筛选先 失效一般分为现场失效和试验失效。现场失效一 后次序对最终的测试结果会产生影响。本文将提出安 般是在装机以后出现的失效，因此，我们在元器件测试 排元器件测试筛选先后次序的原则。 筛选过程中只考虑试验失效。试验失效主要是封装失 效和电性能失效。封装失效主要依靠环境应力筛选来 1 原 理 检测。所谓环境应力筛选，即在筛选时选择若干典型 元器件是整机的基础，它在制造过程中可能会由 的环境因素，施加于产品的硬件上，使各种潜在的缺陷 于本身固有的缺陷或制造工艺的控制不当，在使用中 加速为早期故障，然后加以排除，使产品可靠性接