公差配合与技术测量教学课件作者贾华生第五章表面粗糙度及测量.pptVIP

表5 -8表面粗糙度代号(摘自GB/T 131-2006(1) 返回 表5 -8表面粗糙度代号(摘自GB/T 131-2006(2) 上一页 返回 图5-12表面结构要求的注写方向 返回 图5-13表面结构要求在轮廓线上的标注 返回 图5-14用指引线引出标注表面结构要求 返回 图5-15表面结构要求标注在尺寸线上 返回 图5-16表面结构要求标注在形位公差框格的上力 返回 图5-17表面结构要求标注在圆柱特征的延长线上 返回 图5-18圆柱和棱柱表面结构要求的注法 返回 图5-19大多数表面有相同表面结构要求的简化注法 返回 图5 - 20在图纸空间有限时的简化注法 返回 图5 -21多个表面结构要求的简化注法 返回 图5-22两种或多种工艺获得的 同一表面的注法 返回 表5 -9表面粗糙度的表面特征、经济加工方法及应用举例(1) 下一页 表5 -9表面粗糙度的表面特征、经济加工方法及应用举例(2) 上一页 下一页 表5 -9表面粗糙度的表面特征、经济加工方法及应用举例(3) 上一页 下一页 表5 -9表面粗糙度的表面特征、经济加工方法及应用举例(4) 上一页 返回 表5-10表面粗糙度Ra的推荐选用值(1) 下一页 表5-10表面粗糙度Ra的推荐选用值(2) 上一页 返回 图5-23表面粗糙度样板 返回 图5 - 24光切法测量原理与双管显微镜的光学系统图 返回 图5 - 24光切法测量原理与双管显微镜的光学系统图 返回 图5-25光切法显微镜 返回 图5 - 26光切法显微镜目镜视场 返回 图5-27干涉显微镜 返回 图5-27干涉显微镜 返回 图5-28 BCJ-2型电动轮廓仪 返回 图5-29 返回 * 第五节 表面粗糙度测量 一、比较法 比较法是将被测表面和表面粗糙度样板(如图5一23所示)直接进行比较，两者的加工方法和材料应尽可能相同，否则将产生较大误差。可用肉眼或借助放大镜、比较显微镜进行比较;也可用手摸、指甲划动的感觉来判断被测表面的粗糙度。 这种方法简单易行，多用于车间，可评定一些表面粗糙度参数值较大的工件，评定的准确性在很大程度上取决于检验人员的经验。所以，比较法仅适用于评定表面粗糙度要求不高的工件。 下一页 返回 第五节 表面粗糙度测量 二、光切法 光切法是应用光切原理测量表面粗糙度的一种测量方法。常用仪器是光切显微镜(又称双管显微镜)。该仪器适宜于测量用车、铣、刨等加工方法所加工的金属零件的平面或外圆表面。光切法主要用于测量Its值，测量范围0. 5~60 μm。 光一切法的测量原理可用图5-24来说明。在图5-24 (a)中，P1、P2阶梯面表示被测表面，其阶梯高度为h。A为一扁平光束，当它从45°方向投影在阶梯表面上时，就被折射成S1和S2两段，经B方向反射后，就可在显微镜内看到S1和S2两段光带放大像S1″和S2″同样，S1和S2之间的距离h，也被放大为S1和S2之间的距离h1′，只要我们在测微目镜中测出h″值，就可以根据放大关系算出h值。 上一页 下一页 返回 第五节 表面粗糙度测量 图5 -24 (b)是双管光切显微镜的光学系统。显微镜有照明管和观察管，两只管轴线互成90°。在照明管中光源1通过聚光镜2,窄缝3和透镜5，以45°角的方向投射在被测工件表面4上，形成一狭细光带。光带边缘的形状，即为光束与工件表面相交的曲线，工件在45°截面上的表面形状，此轮廓曲线的波峰在S1点反射，波谷在S2点反射，通过观察管的透镜5，分别成像在分划板6上的 和 ，h”是峰、谷影像的高度差。 上一页 下一页 返回 第五节 表面粗糙度测量 双管显微镜的外形结构如图5 - 25所示。整个光学系统装在一个封闭的壳体内，其上装有目镜和可换物镜组。可换物镜组有4组，可按被测表面粗糙度参数值的大小选用，并由手柄借助弹簧力固紧。被测工件安放在工作台上，应使其加工纹理方向与扁平光带垂直。松开锁紧螺旋，转动升降螺母可使横臂连同壳体沿立柱上下移动，进行显微镜的粗调焦。旋转升降旋钮，进行显微镜的精细调焦。随后，在目镜视场中可看到清晰的狭亮波状光带，如图5 - 26所示。转动目镜读数千分尺，分划板上的十字线就会移动，就可测得影像高度h ′。 上一页 下一页 返回 第五节 表面粗糙度测量 三、干涉法 干涉法是利用光波干涉原理来测量表面粗糙度的一种方法。测量时被测表面直接参与光路，用同一标准反射镜比较，以光波波长来度量干涉条纹弯曲程度，从而测得该表面的表面粗糙度。 干涉显微镜光学系统如图5- 27 (a )所示，由光源1发出的光线经聚光镜2,滤色片3、光栏4及透镜s成平行光线，射向底面半镀银的分光镜7后分为两束:一束光