品质管理仪器校正和管理培训讲义.pptVIP

过程变差剖析 长期 过程变差 短期 抽样产生的变差 实际过程变差 稳定性 线性 重复性 准确度 量具变差 操作员造成的变差 测量误差 过程变差观测值 “重复性” 和 “再现性” 是测量误差的主要来源 再现性 过程变差 第六十一页，共一百零九页。 测量仪器分辨率（测量仪器的分辨率必须小于或等于规范或过程误差的10%） 测量仪器分辨率可定义为测量仪器能够读取的最小测量单位。 看看下面的部件A和部件B，它们的长度非常相似。测量分辨率描述了测量仪器分辨两个部件的测量值之间的差异的能力。 部件A 部件B 部件A 部件B A=2.0 B=2.0 A=2.25 B=2.00 因为上面刻度的分辨率比两个部件之间 的差异要大，两个部件将出现相同的测 量结果。 第二个刻度的分辨率比两个部件之间的 差异要小，部件将产生不同的测量结果。 第六十二页，共一百零九页。 测量系统的有效分辨率（ discrimination） 要求不低于过程变差或允许偏差（ tolerance）的十分之一 零件之间的差异必须大于最小测量刻度 极差控制图可显示分辨率是否足够 看控制限内有多少个数据分级 不同数据分级(ndc)的计算为 零件的标准偏差/ 总的量具偏差* 1.41. 一般要求它大于5才可接受 直尺 卡尺 千分尺 .25 .279 .2794 .28 .282 .2822 .28 .282 .2819 .28 .279 .2791 第六十三页，共一百零九页。 准确度(Accuracy) 准确度(Accuracy) — 测量的平均值是否与真值吻合? 真值(True Value): 理论上正确的值 国际度量衡标准 偏倚（Bias) 测量值的均值与真值的距离 测量系统持续地偏离目标 系统错误 第六十四页，共一百零九页。  BIAS — 测量结果的平均值与参考值的差异. 参考值（reference-value）是一个预先认定的参考标准. 该标准可用更高一级测量系统测量的平均值来确定(例如：高一级计量室) 观测平均值 参考值 偏倚BIAS 第六十五页，共一百零九页。  X1=0.75mm X6=0.8mm X2=0.75mm X7=0.75mm X3=0.8mm X8=0.75mm X4=0.8mm X9=0.75mm X5=0.65 mm X10=0.7mm 同一操作者对同一工件测量10次 如果参考标准是 0.80mm. 过程变差为0.70mm = 0.75 Bias = 0.75-0.8= -0.05 % Bias=100[0.05/0.70]=7.1% 表明 7.1% 的过程变差是偏倚 BIAS 偏倚BIAS 实例: 第六十六页，共一百零九页。 准确度的问题可以通过校准来探测. 偏倚也可以与过程的容差相比较 判断准确度的简单标准为. 小于过程变差或容差的 1%, 可认为是精确的. 小于过程变差或容差的 1% 则需要研究和调整测量系统, 或者临时用补偿值来修正以后的测量值 偏倚的研究还可以通过作图的方式来进行, 即作出直方图, 然后根据经验判断是否可以接受. 偏倚的研究还可以通过计算置信区间来判断是否可以接受 测量平均值 – 参考值 x (100) 容差宽度 第六十七页，共一百零九页。 偏倚研究的分析 如果偏倚在统计上不等于0，检查是否存在以下原因： 基准件或参考值有误—检查确定标准件的程序 仪器磨损—维修 仪器所测量的特性有误 仪器没有经过适当的校准—对校准程序进行评审 评价者使用仪器的方法不正确—对测量指导书进行评审 第六十八页，共一百零九页。 偏倚的调整 如果偏倚不等于零，应采用硬体修正法和软体修正法对量具进行重新校准以达到零偏倚；如果偏倚不能调整为零，通过变更程序（每个读值根据偏倚进行修正）还可继续使用该测量系统。由于存在评价误差这一高度风险，因此这种方法只能在取得顾客同意后方可使用。 第六十九页，共一百零九页。 线 性 在量具正常工作量程内的偏倚变化量 多个独立的偏倚误差在量具工作量程内的关系 是测量系统的系统误差构成 第七十页，共一百零九页。 线性的探测可以在校准时进行 线性的好坏可以通过作图来显示 线性的研究也可以通过数据分析来进行, 即用最小二乘法来计算最佳的拟合直线, 再用假设检验来验证其线性是否可以接受. 第七十一页，共一百零九页。 线性误差的原因 造成线性误差的可能原因如下： 仪器需要校准，缩短校准周期 仪器、设备或夹具的磨损 维护保养不好—空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁 基准的磨损或损坏，基准的误差—最小/最大 第七十二页，共一百零九页。 在一段时间内，测量结果的分布无论是均值还是标准偏差都保持不变和可预测的 通过较长时间内，用被监视的量具对相同的标准或 标准件的同一特性进行测量的总变异来