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数字射线成像检测技术的射线能量最佳化 如何确定高对比度灵活性的检测图像是必须解决的主要问题之一。近年，文献 1 小厚度差的射线能量最佳化问题的基本理论框架 数字射线成像检测技术透照技术的射线能量（透照电压）最佳化问题，讨论的是射线能量与小厚度差对比度灵敏度的关系问题，并不是射线能量与检测图像全面质量的关系。 射线成像检测技术一般理论指出，细节图像对比度与检测图像不清晰度相关。但对于小厚度差这个特定细节，由于其平面尺寸较大，其检测图像对比度不受检测图像不清晰度影响。这样，问题可简化为仅讨论检测图像对比度、信噪比对于对比度灵敏度的影响。因此，射线能量最佳化问题就简化为讨论小厚度差的对比度、信噪比与射线能量的关系。也就是对比度噪声比（CNR）与射线能量的关系。图1简单概括了讨论的核心内容与一般结果。 讨论该问题的基本理论关系式是（常略去负号）： 在确定了相关参数与射线能量关系后，可从该式直接计算对比度噪声比（CNR）随射线能量变化的情况，回答射线能量最佳化问题。理论上，可通过求导数给出小厚度差△T实现最大对比度噪声比所对应的线衰减系数-最佳射线能量（透照电压）。 依据该关系式，基于射线量子发射与吸收服从泊松分布的假设，可简单认为信噪比随射线能量增高单调增加，考虑到线衰减系数与射线能量密切相关（图2），射线能量最佳化问题具有实际意义的是线衰减系数随射线能量明显变化区。表1给出了典型材料铁的部分能量衰减系数构成情况，可见，该区也就是光电效应为主的能量区（包括一段从光电效应为主向康普顿散射为主的过渡区），不同材料该区的射线能量范围不同。结合图2与表1可清楚看到，对于铁0.50MeV约为有意义讨论区射线能量的上限。本文后面的讨论针对的将是光电效应为主的射线能量区。 由于连续谱射线强度分布的复杂性，基于连续谱射线穿过物体的硬化现象，在进行理论性讨论中，实际都是简化为单色、窄束射线情况。这对于理解射线能量最佳化并不失去意义。 2 试验结果与讨论 2010年文献 (1）基于的理论关系式 两篇文献的射线能量最佳化讨论基于的理论关系式实际是： 也就是讨论实际都简化为了单色、窄束射线情况（尽管都未明确说明）。 (2）文献 文献没有给出理论处理的具体情况，也未给出一般理论性结果，给出的主要是图3所示的计算结果曲线（但未给出具体计算及涉及的基本数据）与试验结果（曲线上的点）。明确给出下列试验结果（采用320kV的X射线机，标准分辨力IP板）： 曝光量为10mA×4min时，CNR在105kV得到最大值； 曝光量为2.5mA×4min时，CNR在125kV得到最大值； 曝光量为2.5mA×1min时，未得到CNR最大值的透照电压。 此外，文献指出，为了得到最大的对比度噪声比，需要同时确定最佳管电压与曝光量。 (3）文献 文献假设探测器工作在线性区时探测器信噪比可认为与曝光剂量平方根成正比，同时假设DDA进行了严格响应校正。由于探测器线性区信噪比范围很大，因此，讨论仅涉及探测器线性区信噪比。 对单色、窄束射线，基于信噪比比例于曝光剂量平方根，小厚度差的对比度噪声比可简单写为： 认为初始射线强度I 令该导数为零，求得最大对比度噪声比对应的线衰减系数为： 这是基本结果。 该讨论存在的基本问题是认为初始射线强度为常数，导致基本结果出现错误。 3 最好用于da的辐射能量电压的讨论 3.1 e压关系 其中： 按照X射线强度的基本概念 式中n hv—射线量子能量。 量子能量与加速（透照）电压关系为（e为电子电荷）： 因此有： 明显地n 这样有： 式中i—X射线管的管电流强度。 可见，即使对于单色射线初始射线强度也与透照电压相关，对于射线能量最佳化问题不能认为是常数。如此，所产生的曝光量为： 按检测工作中通常的记法（称为（检测）曝光量）： 3.2 探测器线性区信噪比 按上面讨论，对DDA一般讨论射线能量最佳化问题时，探测器线性区的信噪比为： k 式中k、b为确定的常数，故可写： 对于康普顿散射为主区、对产生为主区也可采用类似的关系，只是k、b常数将改变。 3.3 关于da辐射能量最佳的具体讨论 3.3.1 对比噪声比 将射线能量限制到日常最关注的光电效应为主区（包括一段过渡区）后，对DDA可写出： 对单色、窄束射线的小厚度差△T的检测图像对比度噪声比则有： 最佳射线能量（透照电压）可从上面的对比度噪声比关系式对线衰件系数求导数获得。对于某一确定的曝光量，不难求得： 令其等于0，则可求得： 可见，即使在简单化情况下，得到的结果也不同于文献 3.3.2 作用的一般理论 射线能量限制到光电效应为主区后，按照射线与物质相互作用的一般理论，则有 由于有（C光速）： 故可简单写出（k 这时，小厚度差的CNR关系式： 可写为： 对于某一确定的曝光量，则可得到： 令该导数为零，得到： 这