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压弯管环向对接接头x射线检测工艺 辐射检测对特殊设备的质量和使用安全是非常有效的措施。广泛应用于压力设备的匹配连接检测，主要检测试验对象的宏观几何缺陷。按不同特征 (如使用的射线种类、记录的器材、工艺和技术特点等) 可分为多种不同方法:X射线检测、γ射线检测、种子射线检测等, 以确保检出危害缺陷, 保证其质量安全。 某小径管环向对接接头需进行100%X射线检测, 其主要参数为: 材质:20 根据其参数, 采用了以下X射线检测工艺。 (1) 选用设备:XXG2005型陶瓷管X射线机。 (2) 按设计技术要求采用AB级射线照相检测。 (3) 根据要求选择天津Ⅲ型胶片。 (4) 选用厚度为0.03mm的铅增感屏前后增感。 (5) 由于是现场检测, 因此在检测时应按GB16357的规定, 划定控制区、管理区, 并设置警告标志。检测人员佩戴个人计量计和计量报警仪。 (6) 透照方式。 小径管环向对接接头选用双壁双影透照方式。 (7) 透照布置。 Φ76×5mm的小径管满足下列两个条件: 即可采用倾斜透照方式椭圆成像。 椭圆成像时, 影像开口宽度 (上下焊缝投影最大间距) 取10mm。 (8) 透照次数。 因为T/D0=5/76≈0.07≤0.12, 所以此管环向对接焊接接头100%检测应相隔90 (9) 偏心距L 根据图, 得 式中:L F—射线源至胶片的距离 Δh—焊缝余高 (10) X射线能量。 X射线机的管电压根据需要调节, 选择X射线能量的首要条件是具有足够的穿透力。在对小径管进行透照时, 为了提高底片的宽容度, 常采用高电压、短时间的方式进行透照。管电压越高, 穿透力越强, 衰减系数μ减小, 由公式 在四张底片同处取黑度值 (均为该处的平均值) , 其中四张底片同为天津Ⅲ型胶片, 透照固定条件 (曝光时间1min, 焦距600mm, 管电流5A·m) 和暗室处理 (药水温度22℃, 显影时间5min, 停显10s, 定影15min) 等条件相同, 黑度值见表1。 由图2和表1可以得出, 实际透照时优先选用160k V和170k V电压。四张底片虽都在标准黑度 (1.5~4.0) 的范围内, 但就现有条件相同的情况下, 160k V和170k V的底片人眼识别度好于其他两张底片。 (11) 像质计。 (1) 选用小径管专用 (等径) 像质计, 金属丝应横跨焊缝位置。 (2) 像质计置于胶片侧且应至少识别两根金属丝。 (12) 标记。 (1) 由于工艺管道要求的识别标记较多, 实际透照时小径管上无法摆置, 我们采用了自制的专用贴字块。 (2) 识别标记:工程名称、焊缝编号、部位编号和检测日期等, 返修后应有返修标记R1、R2、R3…… (13) 暗室处理。 (1) 选择皇冠套药手工冲洗的方法进行处理。 (2) 显影:时间5min, 温度22℃。 (3) 停显:10s。 (4) 定影:时间15min, 温度22℃。 (5) 水洗:用流动的清水冲洗30 min。 (6) 干燥:挂在通风的空间自然晾干。 在工业射线照相中, 为了得到一张质量合格的底片, 在选择透照工艺时, 应考虑到射线照相质量的影响因素, 包括对比度、清晰度以及颗粒度等, 现就清晰度做如下的阐述。 造成底片影像不清晰的因素有很多, 排除试件或射源移动、屏—胶片接触不良等, 那么造成射线照相不清晰度的主要是两方面因素, 即:由于射源有一定尺寸而引起的几何不清晰度U 第一, 几何不清晰度U 因为X射线管焦点有一定的尺寸, 所以透照时工件表面轮廓在底片上的影像边缘会产生一定的半影, 此半影即为几何不清晰度U 式中:d F—焦点至胶片的距离 b—工件表面至胶片的距离 由式中可知: (1) 焦点越大, 几何不清晰度越大;焦点越小, 则反之。 (2) 焦距越大, 几何不清晰度越小。由于射线强度与距离平方成反比, 如果要保证底片黑度符合JB/T 4730.2-2005标准中D=2.0~4.0的要求, 即在增大焦距的同时就必须延长曝光时间或提高管电压。延长曝光时间会大大降低工作效率。 提高管电压, 衰减系数μ、减小, 对比度ΔD降低, 固有不清晰度U 简单的对衰减系数μ和对比度ΔD作如下解释:由ΔD=0.434GμΔT/1+n (其中公式中G—为胶片的梯度, ΔT—缺陷在射线方向上的尺寸, n—散射比) 公式得出, 若要提高对比度, 需选择高梯度的胶片、增大衰减系数以及减小散射比。进行检测时胶片已选定, 所以梯度无法改变。射线能量越低, 线质越软, 衰减系数越大;但能量过低又不能保证有足够的穿透力。减小散射比也可以提高对比度, 所以透照时采用有效措施控制和屏蔽散射线: (1) 在暗盒后加一块铅板屏蔽背散射射线; (2) 使用铅窗口减