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钛酸锶钡介电体的制备及性质研究 由于r和更好的铁电性，铁电陶瓷在小型电极、动态分析仪和非机动化器等方面具有很大的商业应用潜力。近年来，铁电材料已成为巴西的研究热点。大约在1832年，交流电出现后，便开始用复εr来表示介质的介电性能。20世纪80年代以前，介电谱的研究倾向于由低频段向微波和亚毫米波段发展。近年来由于聚合物和电子陶瓷材料的研究，又引起了介电谱向超低频段发展的兴趣。目前已经有了自动化程度很高的通用设备，如HP公司的系列仪器，测量频率可由微波段至低频的5 Hz。近几年，德国的Novocontrol公司生产的系列介电谱仪，还宣称频率下限可达3μHzㄢ 大量的实验结果表明，电介质材料中快和慢两种效应普遍同时存在。由于介质中慢极化效应的存在，即使在频率高于10 Hz时，频域介电谱的测量结果也不可靠。由于慢极化效应的响应时间通常比较长，因此，研究超低频下的介电谱，讨论慢极化效应对频域测量的影响将是一个有趣的问题。 1 试验方法与测试条件 5 Hz至10 MHz的介电谱用HP4192A阻抗分析仪测量；更低频率的介电谱测量可用如图1所示的超低频介电谱测量装置。函数发生器为计算机控制16位D/A能产生严格的正弦电压，电压峰值为5V，输出阻抗为100?。将U(t)加于样品电极，保持10个周期以上以建立稳定的电流。用灵敏度达0.1 pA，用动态输入阻抗小于1 k?的微电流计测量流过样品的稳态电流I(t)。用存储示波器同步记录U(t)和I(t)曲线。 若I(t)仍为正弦式的，则样品可用(Rp,Cp)并联电路或(Rs,Cs)串联电路来等效，并根据RLC交流电路方程推导出一组公式： 根据定义 故可计算出样品的超低频复介电常数的实部和虚部分别为： 式(3)表明正的εr′′越大，代表损耗越大。 上述装置采用的测量方法与HP4192A阻抗分析仪完全相同，频率上限为200 Hz，下限为2×10–6Hz。但由于超低频测量耗时太长，故实际测量过程中所用最低频率为0.3 mHzㄢ 2 复合电极的制备 被测样品为用常规固相反应法制备的系列钛酸锶钡(BaxSr1–xTi O3)陶瓷，x=0.50,0.68,0.74的样品分别标记为BST01,BST02和BST03；各样品分别由若干两面烧银电极的同类陶瓷圆片并联获得，电极间为真空时的电容分别为C0=18.9 F,2.27 pF和2.26 pF，所有BST样品均为弥散相变型铁电体。为避免空气中水汽的影响降低漏电电阻，在整个测量过程中将样品浸入100 mm2/s的二甲基硅油中保持与空气隔离。测量前将两电极短路，于140℃下处理0.5 h。在测量温度范围内，测得样品的直流漏电电阻均大于1012?，是很好的绝缘体。 3 测点在r，rh平面上组成了一个用差示扫描线 BST01样品在1 kHz测得的居里温度为–35℃，故室温及以上样品均为顺电相。用时域方法测得60℃时快介电常数εr H=672.5，慢介电常数εr L=1.183×104εr H。静态介电常数为εr S=εr L+εr H，可见样品的极化过程中，慢效应起着主要作用。在30℃和60℃时测得样品的电压电流波形均是正弦式的，故如果假设按快极化效应的传统定义，式(2)～(4)也适用于以慢极化效应为主的介质，则形式上可计算出样品的频域电容Cp和损耗tgδ示于图2。可见，两套频域谱测量装置给出的实验点可连接成连续的光滑曲线，其中5～100 Hz时两种方法给出的实验点重合。图2在频率低于1 Hz时给出的Cp显著增大表明慢极化效应显著增强，而高于1 Hz则主要是快极化效应的贡献。 图3、图4和图6分别给出了三种样品的Cole-Cole图，当频率不高于0.1 Hz时，测点在(εr′，εr″)平面上组成一段圆弧，圆心不在εr′轴上。图3为当频率不低于5 Hz时，测点组成一段直线。对BST02和BST03样品的测量也有类似的结果，这说明样品在宽频带的介电弛豫不是德拜型的。对于高分子聚合物用HP4192A阻抗分析仪在5 Hz～1 MHz范围内测量也出现类似的直线段。图4中BST02样品在100～120℃温区时εr Lεr H，样品的电容量C几乎完全由空间电荷的电位移提供。温度再降低时，空间电荷的激发较难,圆弧半径减小。 图5给出BST02样品的εr′随温度t的变化。在500 Hz至100 kHz范围，εr′(t)曲线几乎不随频率变化，居里峰位置给出铁电相变温度为38℃。随着测量频率的进一步变低，居里峰变宽，峰值位置向低温端移动。当频率低于0.1 Hz时，相变点高温侧的频域介电常数显得越来越偏离居里定律。由图5各实验曲线变化趋势可以预测，当频率足够低时铁电相变的居里峰甚至可以消失。这表明当慢介电效应不可忽略时，超低频测量对铁电研究并无好处。 用HP4192A阻抗分析仪测得BST03