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n射线鉴别技术

对于液体闪闪体，入射颗粒的激发晶体的光冲程通常可以表示为指数衰减的快慢组件。在液体闪烁体中形成平均电离密度为ρ的带电粒子所产生的光脉冲形状可描述如下:

N(t)≈Nf(ρ)τfe?t/τf+Ns(ρ)τse?t/τs(1)Ν(t)≈Νf(ρ)τfe-t/τf+Νs(ρ)τse-t/τs(1)

式(1)中N(t)是光子发射率随时间的变化,Nf(ρ)、Ns(ρ)分别为一次闪光中快、慢成分所包含的光子数,τf、τs分别为快、慢成分的衰减时间。一般情况下,τf为ns量级,τs为μs量级。对同一闪烁体,快、慢成分的强度比与入射粒子的类型有关。研究表明,中子与闪烁体作用产生的荧光脉冲快成分的份额小,慢成分的份额大,而γ射线则恰好相反。因此,如图2所示,中子与γ射线在闪烁体中产生的脉冲形状就有所不同。这些脉冲波形的差异可作为鉴别粒子的根据。从根本上说,现有的n/γ射线甄别方法都是利用脉冲形状的不同来进行甄别的。

2电子实际工件

传统的n/γ甄别主要采用上升时间法、电荷比较法等基于模拟技术的方法,需要专用的电子插件。虽然传统方法的n/γ甄别性能不如数字化甄别方法,但在一般的应用中也能得到比较满意的结果,所以依然在使用之中。

2.1不同脉冲规格下的工作特性

由于中子和γ射线在闪烁体中引起的荧光的快、慢成分不同,光电倍增管输出的脉冲上升时间必定有所差异。上升时间法将这种脉冲上升时间的差异变成了脉冲幅度差异,它是由时间幅度变换器来实现的。其原理如图3所示,光电倍增管输出的信号Vi经基线恢复器分两路分别送入下恒比定时甄别器(例如在脉冲高度10%处给出定时脉冲输出)和上恒比定时甄别器(例如在脉冲高度90%处给出定时脉冲输出)。基线恢复器用来消除基线漂移的影响,以提高测量精度。上、下恒比定时甄别器输出定时信号V1和V2。V1和V2在相加电路中相加,输出信号V3。V3的宽度为两个定时信号V1和V2之间的时间间隔,由时幅变换器变换成信号V4,V4经线性门输出Vo。所以输出脉冲Vo的幅度与输入信号的上升时间大小成正比,通过比较脉冲Vo的幅度就可以甄别中子和γ射线。

20世纪70年代我国原子能研究院研制出了利用脉冲上升时间法分辨中子和γ射线的中子探测器,探头由菧晶体和58AVP光电倍增管组成。利用此n/γ甄别系统可把绝大部分的γ射线排除,漏入中子区的γ射线不超过3%。在国外,ORTEC公司已根据这种方法生产了商品化的仪器ORTEC-552,也有不少实验室将这种仪器用于快中子实验中的n/γ甄别。

2.2各快、慢成分的荷对比

上升时间法需要粒子甄别用的专用仪器。在用几十个、甚至上百个中子探测器的大型实验中,如此多的专用仪器不仅使电子线路非常复杂,而且价格十分昂贵。电荷比较法则是适用于大型实验的更经济、方便的好方法。

由于中子和γ射线产生的光脉冲的快、慢成分比例不同,因此它们相应于快成分(或慢成分)的电荷与总电荷之比亦有差异。如图4所示,慢成分电荷QS(或快成分电荷QF)和总电荷Qr是通过开门脉冲来得到的。QDC(电荷数字转换器)将QS(或QF)和QT转换成数字,用计算机数据获取系统记录下来。因此可以通过比较不同带电粒子形成电荷脉冲的QS/QT和QF/QT的差异来鉴别带电粒子,也可以配合ADC(模数转换器),关联慢(快)成分与能量信号E,鉴别带电粒子。

3数字器件的发现

近年来,高速ADC的出现使得完整记录数字化脉冲波形成为可能,而DSP、FPGA等数字器件的迅猛发展又为全数字化的n/γ甄别方法提供了必要的平台。与传统的模拟方法相比,这些基于软件算法的数字化n/γ甄别方法大大提高了甄别性能,具有其不可比拟的优势。

3.1初心网络结构设计

误差反向传播(Back-Propagation,BP)神经网络由于具有很强的非线性映射能力和灵活的网络结构,在模式识别等领域得到了极其广泛的应用。如图5所示,BP网络的结构具有输出层、隐含层(可以一层或多层)和输出层。

将BP神经网络应用于n/γ射线甄别中主要分为三步:

步骤一:BP网络结构的确定。由于中子和γ射线引起的脉冲在上升沿部分基本相同,而下降沿部分却有很大的不同。为了减少输入的样本数以减轻计算量,仅选取下降沿的样本。大量的实验结果表明,脉冲波峰之后的20～40ns之间的样本个数就足够进行n/γ甄别。文献中的实验采用了8GSas-1的采样率,选取样本区间为32ns,得到了256个样本。根据仿真结果,选取一个具有12个节点的隐层。由于仅需要对中子和γ射线两种类型进行甄别,故输出层的节点数就选为1。因此BP网络结构就确定为256×12×1的多层结构。

步骤二:BP网络的训练过程。将标准的中子和γ射线的脉冲波形分别作为输入的学习样本,对应于这两种事件的网络输出设置为1和-1。通过网络训练,确定网络各