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直流盘型玻璃绝缘子离子迁移和热破坏试验研究分析 ·291·
以上两项试验过程中。不允许任一绝缘子击
2试验方法及程序
穿或破碎。
离子迁移试验方法及程序
3试验结果及分析
2．1体积电阻的测量
电阻测量应在10只绝缘子上进行。分别在 3．1离子迁移试验
试验温度：110℃
900C、120℃、150℃(允许±20C偏差)的温度下测
kV
量相应的绝缘子体积电阻‰、R。20、R，∞，应在铁帽 试验电压：+70
达到规定温度值至少2h后进行，施加电压至少15 试品数量：50片
min后测量。 试验结果：具体数据见表1
2．2计算温度系数A 表I离子迁移试验结果
R。l／R。2=e(A／273+。1)／e(脚+啦) ‰ 正负极性
产品 Q∞实测值 对应 试验
A1(f(90℃、120℃)) 要求值 lmill干耐
型号 年数 结果
(coulomb)
A2(f(1200C、1500C)) (coulomb) 受电压(kv)
LxZY—160I．587 58—73 143
A=(AI+A2)／2 I．849。2．304 通过
2．3计算预期电荷Q如 D(zY一2101．38 1．748—2．31063—84 144 通过
+65℃
U(2：Y一2401．22 1．450。1．83659—75 146 通过
Q,o=V纛t(0)／R(0)
LXZY一300 152
1．17 1．396一1．46360—63 通过
V一对绝缘子元件施加电压(kV)；
60—73
ⅨZYI一3001．29 1．557一1．882 174 通过
t(0)一试验持续时间(s)；
LXzY一4201．6141．80l—1．96856—6l 153 通过
R(0)一试验某一温度的体电阻(Q)
L勉叮l一4201．554 5l～59 153
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