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材料线膨胀系数的测试方法与研究进展 0 膨胀系数测试方法与装置 材料的材料膨胀是物质的基本物理参数之一。这是材料性质的一个重要特征。准确的测量材料线膨胀系数, 对于基础科学研究、技术创新、工程应用都具有重要的意义。最近几年, 世界各国对材料线膨胀系数的测量建立了大量的测试方法与装置, 例如激光干涉膨胀仪、顶杆膨胀仪、衍射膨胀装置、显微膨胀装置和瞬态法等。通过比对, 这些方法各有其优缺点, 在实际生活生产中, 我们根据不同的需要来选择不同的方法。 1 样品长度和定量 在温度T时, 材料的线膨胀系数定义为: α=dL/ (L0dT) 这里L0为常温下样品长度。实际测量中, 材料线膨胀率采用一定的温度间隔ΔT内的平均线膨胀率近似, 即: αˉˉ=ΔL/(L0ΔT)αˉ=ΔL/(L0ΔΤ) 式中,αˉˉαˉ代表平均线膨胀率,ΔL为温度变化ΔT样品的线性热膨胀量。 2 现代材料热膨胀系数测量的发展 2.1 材料热膨胀的测量 人类对物质热膨胀的认识和研究可以追溯到十八世纪。Muss-chenbrock设计了最早的材料热膨胀系数测量装置, 试样 (长15cm)是水平放置的, 它的膨胀量由一组简单的齿轮来放大, 热量由试样下的几只蜡烛提供。Ramsden也在1785年用双套望远显微镜 (比长仪) 技术测量了材料的热膨胀系数。 1805年, Lavoisier和Laplace采用了光学杠杆放大装置对Muss-chenbrock的装置进行了改进。Callender在1887年, Holborn和Day在1900年对Ramsden的方法作了改进。 Fizean测量过一个参考材料的绝对膨胀, 但由于当时条件的限制很难实现, 在日常生活中大多数仅仅测量各种试样相对于此参考材料的热膨胀。 1902年, Scheel最早采用了光干涉法进行了热膨胀的绝对测量, 使材料热膨胀测量向高精度迈了一大步。随后, Becker在1927年成功应用X射线测量各向异性晶体材料的热膨胀, 对高温下物相的研究有很大帮助。1960年, White用高灵敏度的电容法在低温下测量了电子对金属的热膨胀系数。 2.2 顶杆膨胀仪测量 上世纪60年代, 随着激光器和计算机的诞生以及各学科的进步, 材料热膨胀的研究向着更加精确、准确, 更加方便、快捷, 范围更大的方向发展。 在1981年, 美国的Roberts和Drotning就利用激光设计了高灵敏的干涉膨胀仪和偏振干涉膨胀仪, 使材料线热膨胀系数的测量精度达到纳米量级。 日本的M.Okaji和他的同事在这些方面都进行了大量的研究工作。从20世纪70年代年至今, 他们就设计并改进了多种干涉膨胀装置, 在10K到1300K进行了多种材料的测量, 并提供了多种参考物质的数据。1997年, 他们将Roberts和Drotning的两种干涉膨胀仪融合在一起, 设计了一套高灵敏、多用的、偏振光干涉膨胀装置,在常温进行了有效测量, 膨胀量精度达0.4nm,温度测量精度达50mK。随后, 在2000年, M.Okaji和N.Yamada等用顶杆膨胀仪在-50～250℃对一些硅玻璃进行了测量, 标准不确定度为2～4×10-8K-1。这种方法操作容易、结构简单、适用于各种形状的样品, 但它是一种非绝对测量方法, 需要做进一步校准工作。后来, M.Okaji等又将这种顶杆膨胀装置做了改进, 温度用Pt-Pt10%Rh热电偶测量, 膨胀量由线性可变微分器测得。他们用这个改进的装置对单晶硅、SRM739等标准样品进行了测量, 测量温度范围由常温到1550℃,测量结果与美国国家标准技术研究院(NIST)相比误差不超过2%。同时, 他们也对激光干涉膨胀仪进行了改善, 测量范围在300～1300K之间, 测量结果不确定度达1.1×10-8K-1,主要用来测量新的参考材料和校准其它相关测量装置 (如顶杆膨胀仪等) 。在后来的研究中,他们将干涉法和顶杆法进行了简单点对点、面对面的比较, 对同一样品的测量结果干涉法测量不确定度小于1.2×10-8K-1,比顶杆法 (小于4×10-8K-1)要精确许多, 但测量温度范围(-10～60℃)比顶杆法(-50～220℃)小很多。其原因主要是干涉装置中样品表面反射测量光受到温度的限制, 但是用激光干涉测量精度却达到了纳米量级。 为了工业生产的需求, 美国的W.D.Drotning设计了一种在生产环境中应用的干涉膨胀仪,利用了双频He-Ne激光器和辐射加热炉, 减少了样品准备时间 (放宽对样品形状、大小的限制) , 实现干涉条纹的自动调节控制, 应用快速加热系统, 用计算机来完成系统控制和数据的采集和处理, 达到了“样品迅速变化和有效控制测量”的目的。为了快速准确的测量材料热膨胀系数, 美国的A.P.Miiller和A.Cezairl