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常规x射线成象技术与成象理论 1 x射线位相衬度成象的研究进展 自rn18l搜索x射线以来，x射线的大多数图像都是在吸收和轮廓的基础上解释的。众所周知，硬x射线吸收大象可以提供其他损失检测方法所不能提供的材料的内部结构信息，并且具有广泛的应用。然而，对于以轻元为基础的材料来说，材料几乎没有吸收，因为它们只能记录非常差的图像比例。对于轻元来说，硬x射线的典型相位位移的横截面比横截面大约1000倍。因此，近年来x射线相位补偿成像技术越来越受到重视。目前，一些研究人员在x射线成像中提出了几种x射线相位补偿成像方法，这些方法包括使用实验室x射线光源或应用同步辐射光源的新方法。无论是使用x射线还是使用同步辐射光源，这些方法都需要使用接近完整的x射线光学装置来实现高相位噪声干分解。近年来，wilkin等人发展了一种使用x射线“in-111”的硬x射线相位补偿成像方法。这种方法的特点是，x射线只能获得高度横向的空间相位，而不需要使用简单的相位相位。与传统的x射线成像技术相比，这项技术的主要特点是使用微聚焦x射线光源。 本文介绍近年来Wilkins研究组的研究成果.首先论述in-line位相成象的理论基础,然后举例说明常规X射线吸收衬度成象与位相衬度成象的差别.同时,以鸡膝盖关节样品为例,对X射线源尺寸成象衬度的影响进行了系统的研究.此外,对吸收衬度象和位相衬度象的关键参量进行了计算模拟和讨论. 2 位相衬度成象 X射线折射率可以写成n=1-δ-iβ,其中iβ为吸收项. 当X射线穿透物质时, 它的位相与可见光情况一样会发生变化,导致产生位相衬度的可能性. 我们知道能量对折射率两个分量的依赖性差别很大, β(E)=hc4πEμ(E)≈O(E?4),δ(E)=r0h2c24πE2N0fr≈O(E?2),β(E)=hc4πEμ(E)≈Ο(E-4),δ(E)=r0h2c24πE2Ν0fr≈Ο(E-2), 其中E是光子能量,μ是线吸收系数,r0是经典电子半径,N0是单位体积原子数,fR是原子散射因子的实数部分.特别指出的是,随着能量的增加,δ的减少要比β慢得多,见表1.这意味着,对轻元素材料而言,尽管1-δ和1的差值只有10-6, 但当使用非常小的λ值时,即使是不太大的厚度或密度的变化,也可能产生相当大的位相漂移.可是,典型的折射角一般只有几个弧秒量级,要显示这些折射效应需要非常精密的仪器和有效的方法. 前面提到的那些以近完整晶体为基的方法虽然工作得很好, 但是它们受到了单色器尺寸要大、机械稳定度要高和低X射线输出光通量等因素的限制,因而几乎所有的实际应用都只能用同步辐射才能实现.为了克服这些限制,使位相衬度成象有更广泛的应用前景,如图1所示,Wilkins研究组提出了一种更简单、更实用的硬X射线位相衬度成象方法. 图2为位相衬度形成的原理图.图2(a)表示采用非相干光源.当波前通过物体后,产生吸收衬度,在离样品适当的距离将获得清晰的样品吸收衬度象.若大于这个距离,图象将模糊.如果采用相干光源(图2(b)),当波前通过物体时,不可避免地产生位相差,即波前发生畸变,进一步传播时,这种畸变波能以可观察的强度变化显示出来,再进一步传播,这种强度变化差将减弱.因此,获得位相衬度成象的关键,一是相干光源,其次是适当的z1和z2的距离.值得指出的是,我们发展的方法可以使用多色辐射的X射线,而其他方法只能用单色辐射. 细焦点X射线源(≤40 μm)能提供高度的空间相干(spatial coherence)的X射线,而这种光源固有的较低的时间相干(temporal coherence)影响位相的衬度并不严重.相干后所形成的象,实际上是一种in-line全息衍射图. 从原理上全息图需要进行影象再现,来恢复由物体产生的位相分布.这步骤可借助空间频率和强度衬度传递函数(contrast transfer function缩写为CTF)(见图3)进行处理.这一理论自然也包括了吸收衬度.图3为计算得到的点光源位相强度衬度(实线)和振幅强度(虚线)的CTF,其中z为有效的物体-成象平面距离,z=z1z2/(z1+z2),u是空间频率,u=d-1;d是空间周期.从图3可见,对振幅强度的CFT,当z=0,对所有的u,其值都为极大,也就是说吸收衬度最大.随着u的增加,振幅强度CTF减少,当λz??√u=0.7λzu=0.7时, CTF=0.表示没有吸收衬度.随着u的进一步增加,CTF取负值,表明衬度反转.而对位相衬度,当z=0时,其CTF等于零.其值从零开始,表示均匀厚度的均匀物体不产生位相衬度.对小的u,其CTF很小,随着u值增大,CTF值以二次方增加,表明位相物体边缘衬度增加效应.当2λ=u2=1时, 位相强度的CTF达极大值.由此,对给定的波长λ和空间频率u,可决定最佳的有效物