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两种波红外探测器系统噪声计算方法的比较 焦平面系统性能的控制 在国防、民用、科学和商业空间的基础项目中，越来越多的应用使用了多光谱和超光谱成像装置。短波红外是成像光谱仪的重要覆盖波段。而研究和发展最新的从可见光到长波红外的焦平面技术,需要对系统需求有深入的理解,并根据这些需求选择相应的探测器规格。 信噪比是系统设计中的重要指标。在焦平面系统中,信噪比常常被表述为依赖于波长的噪声等效辐照度(NEI)以及系统应用条件下(如积分时间、焦平面工作温度、像素大小)的动态范围特性,而对系统的各种性能进行约束。正确计算信噪比可以检验设计的正确性,衡量设计系统的整体性能,并对系统中器件和规格的选择做出指导。 1 算法的理论基础 对于短波探测器,国内目前比较常用的一种计算方法是已知探测器的比探测率计算探测器的信噪比,即: 式中:D*是探测器的归一化探测率或比探测率,ID为入射到探测器的辐射功率,Ad为探测器像元的面积,?f为噪声带宽。 具体计算过程为: 在确定了响应波段λ1～λ2之后,积分得到该波段内大气顶太阳辐照度E(λo): 式中:E(λ)是太阳发射光谱辐射,单位为W/m2?μm。 假设太阳高度角为θ,地物目标反射率为ρ,则地面的反射幅亮度为: 由此计算得到探测器接收的辐射功率: 式中:?为瞬时视场立体角,Ao为光学系统入瞳面积,τ为透光率,包括大气透过率、光学镜头的效率、以及薄膜滤光片的效率。 噪声带宽由系统的积分时间TI确定: 而D*与Ad为已知,由(1)式计算得到系统的信噪比: 可以看到,在已知探测器比探测率D*的情况下,这种方法可以由系统积分时间、探测器面积、入射光功率来计算得到系统的信噪比。 以下分析上述方法的理论基础。 D*是探测器的归一化探测率或比探测率。定义为探测器面积为1 cm2,测量电路的带宽为1 Hz时的探测率: 探测率实际是噪声等效功率的倒数。噪声等效功率定义为使探测器的输出信号均方根电压Vs等于噪声均方根Vn时,入射到探测器上的辐射功率,记为NEP。那么,探测率可以表示为: 因此式(1)可以简化为: 即信噪比为入射到探测器的辐射功率与小信号时的系统噪声之比。由此可以看到,这种计算方法中,把系统的噪声看成一个常数,用小信号时的系统噪声等效整个系统的噪声。 而在实际的系统中,噪声并不应该是一个常数。图1显示了典型短波焦平面的光子转移曲线(PTC),也就是噪声电子数与信号电子数之比,由三个区域组成。 第一个区域是读出噪声区域,噪声主要来自于阵列数据处理、数模转换的读出电路。由于读出噪声相对于信号等级是独立的,所以读出噪声区域受控区产生一条水平的PTC线。随着信号的增强,散粒噪声开始占优,散粒噪声的斜率一般为1/2。是由于泊松统计下,光子到来具有不确定性而产生的。第三个区域为固定噪声区域,主要是由于每个像素点具有轻微的非均匀性而产生的。 由于目前的探测器读出电路一般采用CTIA电路双路输出,一路在积分开始时采样,一路在积分结束时采样,两路信号相减消去了固定噪声,因此探测器系统噪声主要由读出噪声和散粒噪声两部分组成。 从图1可以看到,只有信号等级比较小时,噪声才是一个常数,随着信号等级的上升,噪声会逐渐增大,直到像素点饱和时达到最大值。 由此,上述计算信噪比的方法存在一定的误差,适合在小信号时计算使用。在信号比较大时,计算得到的信噪比会偏大。 2 噪声电子数计算 短波探测器系统信噪比计算的另一种方法,是通过等效电子数来计算系统的信噪比。将信号和噪声都以电子的形式表示出来。 这种方法将入射到探测器像元的辐射功率转化成光子数,再由探测器的光谱响应率得到探测器激发的信号电子数Nsignal: 式中:η(λo)为探测器的量子效率,h为普朗克常数,c为光速,由入射光的能量乘以光谱响应率除以光子能量得到信号的电子数。 而如图1所显示的那样,由双采样消去了固定噪声后,系统噪声主要包括散粒噪声和读出噪声两部分。 散粒噪声是由于光子到来的不均匀性造成的,因此暗电流电子和信号电子都会产生散粒噪声。其中暗电流的电子数为: 式中:U为数据手册给出的暗电流电压率,单位为V/s,C为探测器读出电路电容值,TI为积分时间,q为电子电量。若数据手册给出的是暗电流的电流值,则可由I=Cd U/dt得出暗电流的电子数计算式为: 因此散粒噪声电子数为: 而每次读出的噪声电子数也由数据手册给出nread。因此总的噪声电子数为 信噪比公式为: 上述各式中,大写N表示一个确定的电子/像素等级,而小写n表示一个均方根的噪声等级,单位同样是电子/像素。 该方法由信号电子数和噪声电子数之比得到系统的信噪比。系统的信噪比受限于读出噪声电子数的大小和焦平面激发电子数大小。 由式(16),还可以得出结论: 也就是说,一个像素点的信噪比不可能超过它所收集的总电子数的开方。这也给出